Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного микроскопа
Категория реферата: Рефераты по физике
Теги реферата: курсовые, заключение курсовой работы
Добавил(а) на сайт: Баранов.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 | Следующая страница реферата
РЕФЕРАТ
Дипломна робота: 43 сторінок, 12 малюнків, 1 таблиця, 6 джерел.
Об`єктом дослідження є поверхня металевих та напівпровідникових матеріалів за допомогою скануючого електронного мікроскопа.
Методикою досліджень являється реєстрація вторинних електронів та фотонів.
Результати досліджень можуть бути застосовані працівниками, які займаються дослідженнями в області напівпровідникових матеріалів.
RESUME
The graduation research “Using the Scanning Electron Microscopy for
diagnostics of a surface of semiconductors ” – 2003, student Lyashenko O.A.
(DNU, physical faculty, gr. FP-98-1, department of optoelectronics) leader
Klimenko V.V.
The work is interesting for researchs the semiconductor researches.
Bibliography pages 43, Tables 1, Images 12.
Тема:
Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного
микроскопа
Зміст.
Реферат
4
Resume
5
Вступ.
7
Розділ І. Літературний огляд
8
1. Одержання і керування потоком електронів
8
2. Електростатичні лінзи
10
3. Магнітні лінзи
14
4. Електронно-оптичні дослідження матеріалів
15
5. Звичайний просвітлюючий електронний мікроскоп 16
1. Електронна оптика
16
2. Зображення
18
Рекомендуем скачать другие рефераты по теме: конспект подготовительная группа, философские рефераты.
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 | Следующая страница реферата