Конструирование микросхем и микропроцессоров
Категория реферата: Рефераты по информатике, программированию
Теги реферата: движение реферат, п реферат
Добавил(а) на сайт: Федот.
Предыдущая страница реферата | 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 | Следующая страница реферата
- низкоомные резисторы и подслой для контактных площадок
- высокоомные резисторы
- нижняя обкладка конденсатора и соединительные проводники
- диэлектрик конденсатора
- верхняя обкладка конденсатора и контактные площадки
- защитный слой;
4. Ограничение перечня элементов в пленочном исполнении;
5. Произведен расчет геометрических размеров элементов;
6. Определение необходимой площади подложки:
[pic], где Кзап=0,5-0,75
[pic]
Из перечня стандартных размеров выбираем подходящие размеры
подложки . Исходя из проведенных расчетов выберем подложку с размерами
12x20 мм.
7. При проведении граф-анализа данной схемы установлено, что все пленочные и навесные элементы расположены в плоскости, и схема их соединений удовлетворяет всем конструкторским и технологическим требованиям.
Граф - анализ электрической принципиальной схемы
Рис. 3. Граф - схема
Топология
Рис. 4. Топология
Обоснование выбора корпуса
В ыбор типоразмера корпуса произведен согласно геометрическим размерам подложки. Выбор типоразмера корпуса произведен с таким расчетом, чтобы подложка стандартных размеров с размещенными на ней элементами помещалась в выбранный корпус. Корпус 1221.18-5 ГОСТ 17467-88. Корпус металлостеклянный прямоугольной формы с продольным расположением выводов. Он обладает следующими достоинствами: o хорошо экранирует плату от внешних наводок; o изоляция коваровых выводов стеклом обеспечивает наилучшую герметизацию и устойчивость к термоциклированию; o крепление крышки контактной сваркой обеспечивает хорошую герметизацию и прочность; o хорошо согласовывается с координатной сеткой.
Технологическая часть
Последовательность технологического процесса
1. Изготовление масок;
2. Подготовка подложек;
3. Формирование тонкопленочной структуры;
4. Подгонка номиналов;
5. Резка пластин на кристаллы;
6. Сборка;
7. Установка навесных элементов;
8. Контроль параметров;
9. Корпусная герметизация;
10. Контроль характеристик;
11. Испытания;
12. Маркировка;
13. Упаковка.
Методы формирования тонкопленочных элементов
О
сновными методами нанесения тонких пленок в технологии ГИМС являются:
термическое испарение в вакууме, катодное, ионно-плазменное и магнетронное
распыления.
[pic]
Термическое испарение в вакууме 10-3 - 10 -4 Па предусматривает
нагрев материала до температуры, при которой происходит испарение, направленное движение паров этого материала и его конденсация на
поверхности подложки. Рабочая камера вакуумной установки (Рис. 5, а)
состоит из металлического или стеклянного колпака 1, установленного на
опорной плите 8. Резиновая прокладка 7 обеспечивает вакуум-плотное
соединение. Внутри рабочей камеры расположены подложка 4 на
подложкодержателе 3, нагреватель подложки 2 и испаритель вещества 6.
Заслонка 5 позволяет в нужный момент позволяет прекращать попадание
испаряемого вещества на подложку. Степень вакуума в рабочей камере
измеряется специальным прибором - вакуумметром.
Рекомендуем скачать другие рефераты по теме: мировая торговля, инновационный менеджмент.
Предыдущая страница реферата | 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 | Следующая страница реферата